Пресс-центр

Новости компании

16.10.2020 Главная страница

Разработана технология распознавания ДКР в охранной зоне ВЛ по спутниковым снимкам с использованием нейросети

Специалисты АО «Техническая инспекция ЕЭС» создали программу, позволяющую существенно повысить скорость и точность обработки космических снимков при анализе состояния охранных зон ВЛ и определять высотные характеристики ДКР

14.10.2020 Главная страница

Опубликована брошюра «Технико-экономическая целесообразность применения систем диагностического мониторинга высоковольтного оборудования»

Авторами работы, вышедшей в девятом номере приложения к журналу «Энергетик» «Библиотечка электротехника», являются сотрудники АО «Техническая инспекция ЕЭС»

07.10.2020 Главная страница

На международном научном семинаре представлены разработки АО «Техническая инспекция ЕЭС»

Директор по научно-техническому сопровождению Леонид Дарьян сделал доклад о созданной технологии рентгенографического контроля технического состояния высоковольтных выключателей

21.08.2020 Главная страница

Делегация Минэнерго России во главе с замминистра Евгением Грабчаком посетила Ядерный центр в Снежинске

В рамках визита состоялась встреча руководителей АО «Техническая инспекция ЕЭС» и ФГУП «РФЯЦ-ВНИИТФ»

24.03.2020

Разработки АО «Техническая инспекция ЕЭС» представлены на международной конференции в США

Мероприятие было посвящено вопросам контроля, оценки и диагностирования высоковольтного оборудования

02.03.2020 Главная страница

Завершена разработка рентгенографического комплекса для обследования в эксплуатации высоковольтных маломасляных выключателей по заказу ПАО «МРСК Юга»

Разработанная технология может быть распространена на выключатели других типов и классов напряжения, а также на другие виды оборудования

20.02.2020 Главная страница

Результаты исследований АО «Техническая инспекция ЕЭС» опубликованы в одном из ведущих научно-технических изданий мира

Статья «X-ray Testing of High Voltage Oil-filled Electrical Equipment: Physical Background and Technical Requirements» вышла в журнале «Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation»